貴金屬因其價值高，對測量精度要求較高，X熒光分析儀采用的X射線熒光光譜技術作為一種無損檢測技術，檢出限低，適合用來檢測樣品中貴金屬的組成和含量，目前已經成為貴金屬分析領域中的主要檢測手段。
X射線熒光分析儀作為一種較為成熟的元素分析技術，具有簡單快速，準確度高，精密度好，多元素同時測定等特點，X射線熒光分析儀的發展經歷了幾十年，從第一臺波長色散型X熒光分析儀的產生，到ED-XRF和ED-XRF合為一體的儀器的問世，其結構和功能上都有著很大的改進，使的XRF在地質、礦石、冶金、考古、貴金屬檢測等領域得到了廣泛應用。在貴金屬檢測方面，由于X熒光光譜儀測定貴金屬操作快捷、自動化程度高，已經成為貴金屬分析領域中主要的檢測手段。而為了適應各種不同形態、不同性質的貴金屬檢測，X熒光光譜儀也經歷了結構從簡單到復雜，分析速度從慢到塊，分析精度從低到高的發展。
X熒光光譜儀的貴金屬檢測
在X熒光光譜儀出現后，已經迅速在各種科研和工業領域得到了廣泛的應用，發展前期，主要還是應用基本的波長色散型和能量色散型。貴金屬檢測領域，使用更多的也是能量色散型X熒光光譜儀，例如，使用其測量金涂層厚度，測量多層薄膜厚度，測量噴鍍過程中的金濃度，測量貴金屬元素含量。
X熒光光譜儀，是科學檢測貴金屬含量的有效方式。